TOPA LITe

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TOPA LITe

 LITe SLITe MLITe L
Lieferumfang
KameraFLIR A35scFLIR A655scFLIR A6750sc
SoftwareLITe Elements SLITeLITe
LabornetzgerätJaJaJa
SignalgeneratorJaJaJa
PulsgeberJaJaJa
TriggerkabelJaJaJa
BNC-KabelJaJaJa
Kabel / Klemmen4 Kabel / 2 Klemmen4 Kabel / 2 Klemmen4 Kabel / 2 Klemmen
Schwanenhals StativJa--
Labor Stativ-JaJa
Kamera
TypFLIR A35scFLIR A655scFLIR A6750sc
Auflösungca. 250µmbis zu 25µmbis zu 3,75µm
Detektorgröße320 x 256 Pixel640 x 480 Pixel640 x 512 Pixel
Detektorartungekühlter Mikrobolometerungekühlter Mikrobolometergekühlter InSb ( Indium Antimonide)
Spektralbereich7,5 - 13µm7,5 - 14µm1 - 5µm oder 3 - 5µm
Thermische Empfindlichkeit< 50mK< 30mK< 20mK
Bildwiederholrate60Hzmax. 200Hzmax. 4175Hz
Fokusmit Fokussierwerkzeugmanuellmanuell
Software
DatenerfassungEchtzeit als Video / Lock-In AufnahmeEchtzeit als Video / Lock-In AufnahmeEchtzeit als Video / Lock-In Aufnahme
Exportformatejpg, png, bmp, asciijpg, png, bmp, asciijpg, png, bmp, ascii
BetriebssystemWindows 64 bitWindows 64 bitWindows 64 bit
Farbpaletten3 verschiedene Farpalettenzahlreiche verschiedene Farpaletten, frei konfigurierbarzahlreiche verschiedene Farpaletten, frei konfigurierbar
AuswertungProfile, Zeitverlauf, StatistikProfile, Zeitverlauf, StatistikProfile, Zeitverlauf, Statistik
BildverarbeitungsfilterBildverarbeitungsfilter
Simultane Live- und Ergebnisbilddarstellung,Simultane Live- und Ergebnisbilddarstellung,
BildüberlagerungBildüberlagerung

Haftungsausschluss: Änderungen der technischen Daten sind jederzeit vorbehalten. Die Verfügbarkeit der Modelle und des Zubehörs kann je nach Markt und Region variieren.

 

Finden Sie schnell und präzise Hotspots, elektrische oder mechanische Defekte mit TOPA LITe

 

Herausforderung

– Untersuchung von Bauteilen mit glänzenden Oberflächen

– Wiederholbarkeit der Messung (bisher lange Aufheiz- und Abkühlzeiten)

– Analyse von thermischen Auffälligkeiten innerhalb des Bauteils

– Erkennung kleinster Temperaturunterschiede

Lösung

– störende, äußere Einflüsse (z.B. Reflektionen) werden eliminiert

– Wiederholgenaue Messungen durch digitale Echtzeit-Synchronisierung

– Tiefenaufgelöste Messung durch frei einstellbare Impuls-Frequenz

– Verbesserung der Empfindlichkeit der IR-Kamera

 

Methode

Mit der Lock-In Methode in der Thermografie können sie ihre zu prüfenden Elektronikbauteile noch genauer auf kleinste thermische Auffälligkeiten untersuchen. Durch ein kurzzeitiges, elektrisches Anregen Ihres Bauteils, erzeugen sie einen minimalen thermischen Wärmefluss, der mittels der Analysesoftware ausgewertet werden kann. Die Ergebnisbilder können in verschiedene Datenformate exportiert werden.

Anwendungsgebiete

– Bestimmen der Oberflächentemperatur und Erkennung von Hotspots an ICs, Transistoren und passiven Elektronikbauteilen

– Erkennen von Zelldefekten an Solarzellen

– Auffinden von Kurzschlüssen

– Detektieren von elektrischen und mechanischen Defekten

 

TOPA LITe System Varianten S, M und L

– Die Einstiegsvariante S basiert auf der FLIR A35sc und ermöglicht Echtzeitanalysen und einfache Auswertungen.

– Profivariante M für feine Strukturen. Echtzeitanalyse durch umfangreiche Auswertemethoden aus der Bildverarbeitung. Auflösung bis zu 25µm pro Bildpunkt.

– High-End-Variante L mit gekühlter Mittelwellen-IR-Kamera für kürzeste Integrationszeiten, hohe Geschwindigkeiten und kleinste Bildpunkte. Auflösung bis zu 3,75µm pro Bildpunkt.

Zusätzliche Information

Bildwiederholfrequenz

4.175 Hz

Infrarot-Auflösung

640 x 512 Pixel

Infrarot Messbereich

-20 °C bis +2.000 °C

Genauigkeit

±2 °C oder ±2 %

Thermische Empfindlichkeit (NETD)

< 20 mK

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Wir sind Ihr Spezialist für hochwertige Messtechnik.

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+49 8805/922890 | [email protected] | 82383 Hohenpeißenberg | Frauenwaldstraße 11